Sistema de medición telecéntrico para inspección en línea de alta velocidad
La plataforma basada en Silhouette ofrece repetibilidad submicrónica, exposición de 25 μs y medición sin distorsiones en todo el campo de visión.
KEYENCE ha ampliado su serie TM-X5000 con un nuevo cabezal sensor de campo ultra amplio que ofrece un campo de visión de 120 mm, dirigido a la inspección dimensional en línea de alta velocidad en componentes más grandes.
Las características clave son:
Sistema óptico telecéntrico dual con telecentricidad de 0,0001° (típico)
Opción de campo de visión ultra amplio de 120 mm
exposición mínima de 25 μs;ciclos de muestreo de hasta 3 ms
Repetibilidad hasta ±0,03 μm;Precisión de posición de ±0,2 μm.
Hasta 100 herramientas de medición simultáneas con detección de defectos en línea
La última incorporación aumenta el área máxima de medición de 65 mm a 120 mm manteniendo al mismo tiempo la repetibilidad submicrónica.Diseñado para la inspección de diámetros exteriores, espacios, anchos y perfiles, el sistema combina óptica telecéntrica dual con análisis basado en siluetas para ofrecer mediciones estables independientemente del tipo de material, incluidos objetivos transparentes y reflectantes.
En el centro de la plataforma hay un sistema óptico telecéntrico dual con lentes tanto en el transmisor como en el receptor.Mediante el uso de iluminación LED verde colimada y un sensor CMOS de alta resolución, el sistema captura siluetas de bordes nítidos incluso cuando los objetivos cambian dentro del campo de visión.La telecentricidad de 0,0001° (típica) ayuda a minimizar la variación de tamaño debido a la desalineación.
Tiempos de exposición tan cortos como 25 μs hasta 40 veces más rápidos que los modelos convencionales permiten una medición nítida de piezas que se mueven o giran rápidamente.El sistema admite ciclos de muestreo de hasta 3 ms, lo que permite una verdadera inspección en línea sin ralentizar las líneas de producción.
La precisión de la posición de medición se especifica hasta ±0,2 μm en áreas de alta precisión, con una repetibilidad de hasta ±0,03 μm dependiendo del cabezal seleccionado.La óptica sin distorsión y el procesamiento de subpíxeles dividen cada píxel en más de 100 subpíxeles para mantener la precisión en todo el campo de visión, reduciendo la variación en la detección de bordes.
El controlador admite hasta dos cabezales sensores y hasta 100 herramientas de medición por cabezal, incluidas funciones de GD&T, paso, desviación y comparación maestra.La detección de anomalías integrada permite la medición dimensional simultánea y la detección de rebabas, virutas o partículas extrañas.Con cabezales con clasificación IP64, unidades de bus de campo opcionales que incluyen EtherNet/IP, PROFINET y EtherCAT, y capacidad de importación CAD para la creación rápida de programas, el sistema se posiciona como una plataforma todo en uno para entornos de automoción, electrónica, medicina y fabricación de precisión.