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Sensor de CMOS de punto cuántico para rayos X y swir
El sensor convierte las radiografías en señales en un chip, captura un amplio rango de luz y permite imágenes de bajo costo a través de usos médicos, industriales y ambientales.
CSEM, en asociación con la startup holandesa QDI Systems, ha desarrollado un sensor de imagen que convierte las radiografías en señales electrónicas que usan puntos cuánticos en un chip CMOS.Esta es la primera vez que se utiliza este método.El sensor utiliza una capa recubierta de spray de puntos cuánticos, cristales de semiconductores que absorben longitudes de onda específicas, colocadas directamente en chips CMOS utilizados en electrónica.El sensor captura longitudes de onda de radiografías a luz visible e infrarrojo de onda corta (swir).Proporciona resolución espacial, sensibilidad de 400 a 1300 nm y un factor de relleno cercano al 100%, manteniendo la densidad de píxeles y el uso de energía.
El diseño del sensor elimina la necesidad de centelleadores, unión híbrida y materiales como Ingaas.El uso de CMOS permite compatibilidad con las líneas de producción de semiconductores, lo que permite la fabricación a gran escala a menor costo.Este diseño combina el rango espectral y la función del sensor en un dispositivo, reduciendo la necesidad de múltiples sistemas.
El sensor se puede usar en atención médica para sistemas de rayos X y mamografía con menor exposición a la radiación.En la industria, permite probar aviones y máquinas sin desmontaje.En agricultura y reciclaje, admite la clasificación de materiales y el análisis de cultivos utilizando imágenes SWIR.
Algunas de las características clave del chip CMOS incluyen:
Convierte los rayos X en señales directamente en el chip
Utiliza pequeños puntos (puntos cuánticos) rociados en chips de cámara normales
Funciona a través de rayos X, luz visible e infrarrojo de onda corta
Casi todo cada píxel se usa para capturar imágenes
El sensor se desarrolló bajo el Proyecto Swissmodics para su uso en aviones, con el apoyo del programa Clean Sky 2 de la UE y la Secretaría de Educación, Investigación e Innovación de Swiss State.Primero fue construido para detectar daños internos en los aviones.El mismo diseño ahora se está utilizando en otras áreas, como la inspección y el monitoreo.Nadim Maamari de CSEM dijo que el sensor reduce los límites de costo y tamaño, lo que hace posible las imágenes en áreas que no podían usarlo antes.